Notiziario Marketpress di
Mercoledì 04 Aprile 2007
METROLOGIA PER LE NANOTECNOLOGIE
Bruxelles, 5 aprile 2007 - Dal 14 al 15 giugno a Torino si svolgerà un workshop sulla metrologia per le nanotecnologie. L´iniziativa sarà basata sulle reali esperienze ed esigenze dell´industria e adotterà un approccio orientato alle applicazioni. Il workshop riunirà esponenti dell´industria ed esperti in metrologia italiani e internazionali per discutere le esigenze e i recenti sviluppi della nanometrologia, con un´attenzione particolare per le tecniche e i metodi di misura, la strumentazione e i campioni. Le sessioni tematiche affronteranno i seguenti argomenti: nanofabbricazione, tecniche top-down, nanoelettronica, dispositivi quantici; superfici, strati sottili e metrologia a scala atomica; materiali nanostrutturati, nanocompositi, analisi delle particelle; tecniche interdisciplinari. Per ulteriori informazioni visitare: http://www. Nanotec. It .
